泰勒表面粗糙度儀基礎(chǔ)知識(shí)

表面粗糙度基礎(chǔ)：

每個(gè)組件表面都會(huì)有一些紋理形狀因結(jié)構(gòu)和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個(gè)主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預(yù)測(cè)組件在使用過程中的行為，有必要使用表面紋理參數(shù)對(duì)表面特征進(jìn)行量化。

表面紋理參數(shù)可分為三個(gè)基本類型:

振幅參數(shù)-測(cè)量表面偏差的垂直特征
間距參數(shù)-測(cè)量表面偏差的水平特征
混合參數(shù)-間距參數(shù)和振幅參數(shù)的組合

樣本長度-輪廓會(huì)劃分為樣本長度|，它的長度足以容納進(jìn)行可靠的統(tǒng)計(jì)所需的數(shù)據(jù)量。對(duì)于粗糙度和波紋度分析，樣本長度等于選擇的截止長度。
截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數(shù)學(xué)方法移除或減少不必要的數(shù)據(jù)以查看重點(diǎn)區(qū)域的波長的濾波器。樣本長度也稱為截止長度。測(cè)定長度-用于評(píng)估要測(cè)定輪廓的X軸方向的長度。測(cè)定長度可能包含一個(gè)或多個(gè)樣本長度。對(duì)于原始輪廓，測(cè)定長度等于樣本長度。
標(biāo)準(zhǔn)-適用時(shí)，泰勒●霍普森設(shè)備會(huì)遵從ISO3274-1996、IsO 4287-1997、IsO 4288-1996、ISO 11 562和其他標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的程序。使用粗糙度、波紋度或原始輪廓的所有參數(shù)都符合下列假設(shè):
T=輪廓類型，即R (粗糙度)、W (波紋度)或P (原始)
n=參數(shù)后綴(如q、t、p. v等)

N=測(cè)量的樣本長度數(shù)
當(dāng)參數(shù)顯示為Tn (如Rp)時(shí)，即假定此值已通過5個(gè)樣本長度進(jìn)行測(cè)量。如果測(cè)量的樣本長度數(shù)不是5，則參數(shù)會(huì)將此數(shù)目顯示為TnN (如Rp2)。大規(guī)則-如果參數(shù)還顯示大值(如Rz1max)，則測(cè)量值不應(yīng)大于的公差值。如果未顯示大值(如Rp)，則允許有16%的測(cè)量值大于的公差值。有關(guān)大值和16%規(guī)則的詳細(xì)信息，請(qǐng)參閱ISO 4288-1996。